Présentation en direct
Octobre 17 à 8h-13h
Tour Métrologie – Montréal
Présenté par
Rejoignez-nous pour un atelier de demi-journée afin de découvrir les dernières applications et avancées en métrologie et en numérisation 3D.
Des experts de l’industrie de ZEISS, Origin et CAD Micro nous guideront à travers plusieurs études de cas réels sur la manière dont ces technologies sont exploitées pour l’inspection, le contrôle de la qualité, la rétro-ingénierie, l’inspection du premier article, l’analyse des processus ou des pièces, et la résolution de problèmes de fabrication.
Nous disposons d’un nombre limité de places, inscrivez-vous dès maintenant pour réserver la vôtre. Nous espérons vous y voir !
Agenda
Temps
Description
8:00 – 8:30 am
Arrivé et déjeuner
8:30 – 8:45 am
Bienvenue et Introduction
8:45 – 9:30 am
Identification des défauts de pièces et du processus de fabrication grâce à la numérisation 3D
9:30 – 10:00 am
Comment exploiter le jumeau numérique pour l’inspection et le contrôle qualité
10:00 – 10:30 am
Résoudre les problèmes de R&D en pré-production pour les assemblages
10:30 – 10:45 am
Pause café
10:45 – 11:15 am
Comprendre les méthodes modernes de rétro-ingénierie
11:15 – 11:45 am
Découvrir d’autres applications en métrologie 3D
11:45 – 12:00 pm
Dernier mot et session de questions-réponses
12:00 – 1:00 pm
Dinner et opportunité de réseautage pour discuter avec nos experts